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Documenti in archivio: 3   -   Autore: Tagliaferri, G
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7. TECHNICAL REPORTS

pdf icon   Electroformed nickel samples for the polarimetric LAMP X-ray telescope: sample roughness characterization

Tayabaly, K., Spiga, D. , Salmaso, B. , Valsecchi, G., Banham, R., Missaglia, N., Pareschi, G. , Tagliaferri, G.

2014, INAF/OAB internal report 05/2014
pdf icon   Mirror module design for the XIPE X-ray polarimeter

Spiga, D. , Tagliaferri, G. , Costa, E., Soffitta, P., Muleri, F.

2014, INAF/OAB internal report 10/2014 - ESA class. XIPE-OAB-TN-0001
Proof of Concept No. 2 optic with slumped glasses: tests in focus at PANTER

Spiga, D. , Civitani, M. , Burwitz, V., Burkert, W., Menz, B., Hartner, G., Salmaso, B. , Basso, S. , Pareschi, G. , Tagliaferri, G. , Ghigo, M. , et al.

2014, INAF/OAB internal report 03/2014